二手FT9500 X射线荧光镀层厚度测量仪

工厂低价转让一台 2014年机械 品牌：日立 型号射线荧光镀层厚度测量仪

技术参数：

产品规格

可测量元素：原子序数

X射线聚光：聚光方式

X射线源：管电压：50kV

管电流：1mA

检测器：Vortex检测器（无需液氮）

分析范围：0.1mm、5mm

样品观察：彩色CCD摄像头（附变焦功能）

滤波器：3种模式自动切换

样品室：样品平台 240（W）×330（D）mm

移动量 X：220mm Y：150mm Z：150mm

载重量 10kg

重量：123kg（不含电脑）

X-ray Station：台式电脑 19LCD （OS MS-Windows XP）

膜厚测量软件：薄膜FP法（多五层，各层十种元素）

检量线法（单层、双层、合金膜厚成分）

定量分析功能：块体FP法

统计处理功能：MS-EXCEL

报告制作：MS-WORD

安装环境：温度

湿度：35%80%

使用电源：接地三头插座

主要特点：

1. 薄膜，多层膜测量

通过采用新型的毛细管（X射线聚光系统）和X射线源，把与以往机型FT9500同等强度的X射线聚集在30 m的极微小范围。因此，不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。

同时，也可对几十纳米等级的AuPdNiCu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。

2. 异物分析

通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合，可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线，通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析（AlU）。

3. 数据编辑功能

配备了Microsoft Excel和Microsoft Word。在Microsoft Excel上面配备了统计处理软件，可以进行测量数据、平均值、大小值、C.V.值、Cpk等的统计处理。

另外，通过Microsoft Word可以简单的制作包含了样品画图的测量报告书。

4. 高强度照射

通过高强度照射在微小部分也可以鲜明的观察、聚焦位置。

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